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OEA丨激子与光路双重调控:在新型铪基TADF闪烁体阵列实现超高分辨率X射线成像
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可以预见,随着材料机理认识的不断深入和结构设计的持续优化,铪基TADF闪烁体及其阵列化方案有望成为下一代高分辨率X射线成像的核心技术。
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通过硅基微孔阵列闪烁屏的开发,为高分辨率X射线成像提供了一种低成本、可规模化制备的解决方案。
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