缺陷密度

缺陷密度，指硅片单位面积内出现的制造缺陷数量。

14A制程缺陷密度快速降低：创22nm以来最佳2026年08月31日16:07快科技快科技8月31日消息，IntelCFODavidZinsner近日在德意志银行2026科技大会上宣布，下一代14A制程的缺陷密度下降速度创下22nm以来的最佳表现，外部代工客户态度已从技术评估转向产能问询。