圆度
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圆度是几何量形位公差体系中的核心基础参数之一，其测量精度直接关系到精密主轴、先进光学元件、半导体芯片等高端制造产品的性能表现和装配质量。
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测量
同时，我国自主研发新型误差分离技术，大幅抑制主轴回转误差，将圆度测量不确定度从20纳米降至6纳米，测量能力达到国际先进水平。
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这一标志性成果填补了国内圆度量值溯源体系空白，意味着我国在高精度圆度测量领域实现跨越式发展，整体技术能力跻身国际先进行列。
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这也意味着，我国已实现高准确度圆度测量若干核心关键技术自主可控，打破国外长期技术垄断，为全面国产化替代奠定了坚实的技术支撑。
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