第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026）

【EI, Scopus检索】The 6th International Conference on Detection Technology and Intelligence System（DTIS 2026）

会议信息

大会网址： https://ais.cn/u/MR7fia

时间地点：2026年12月4-6日，中国-昆明

截稿日期：详见官网，多轮截稿

大会简介

第六届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2026） 将于2026年12月4-6日在中国昆明举行。 DTIS 2026会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

征稿主题

检测技术

智能系统

传感器技术

机器人传感与数据融合

信号与信息处理

系统建模与辨识

自动检测与转换技术

智能无损检测

光学测量技术

智能故障检测与诊断

光电测量与控制系统

数据分析与大数据挖掘

检测系统运行与维护

计算机控制

检测电路基础

事件与数据驱动控制

光电子技术

嵌入式系统与传感器网络

光学系统分析

分布式控制系统

光学无损检测

面向检测系统的人工智能

光电测量仪器

自然语言处理

其他相关主题亦可投递 ，有毕业/评职称需求者，早投递早提交审核！

论文出版

本会议投稿经过2-3位组委会专家严格审核之后，最终所录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series(JPCS)(ISSN:1742-6596)收录出版， 出版后提交EI Compendex, Scopus检索。

投稿要求：

◆论文需按照会议官网的模板排版，详见官网；

◆仅接受全英稿件，请将稿件投至 【论文编译】 平台进行翻译；

◆文章原创未正式发表过，符合重复率要求；所有投稿将进行文献真实性检测，请务必保证参考文献可被核实DOI或相应链接。 推荐使用 【AI学术诚信检测平台】 为您提供 人工智能生成内容检测、文本相似性检测（中英文查重）、图片查重检测、参考文献风险检测。

参会方式

一篇录用文章允许一名作者免费参会；

1、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；

2、海报展示：申请海报展示，A1竖版尺寸；

3、听众参会：不投稿仅参会，也可申请演讲及展示。

参会可获得会议资料（会议通知、参会证书等）

大会秘书处 | 领取投稿参会优惠， 学术会议 资料和咨询后续见刊和检索！

-------------------------------------------------------------------

【其他学术支持】点击查看

快速预审期刊AI匹配系统： 深度语义解析，10秒读懂你的研究、自动屏蔽假刊套刊，源头避坑、匹配成功直通快速预审，论文隐私零风险，数据用完即销毁

学术会议： 高录用检索快，会议主题涉及能源与环境、水利土木工程、电子信息工程、生物工程、计算机科学、地球科学、机械自动化、材料与制造技术、经管金融、人文社科等主流学科。

会议时间 2026-12-04至2026-12-06

会议地点 云南昆明

声明：

1.以上会议非科学网主办或承办会议，科学网会议频道会议来自于互联网方便用户了解行业信息，如需参会、汇款、获取邀请函或会议日程，请与主办单位联系 2.部分会议信息来自互联网，由于网络的不确定性，科学网对所发布的信息不承担真实性的鉴别工作，请谨慎选择汇款参会，若您发现信息有误，请联系010-62580809纠错 3.更多服务信息请 点击这里

推荐会议

12月

主题：详见官网