测试

光源输出波长范围1240nm～1680nm、光谱测试范围：350nm～2500nm、光源输出波长精度±3pm、光谱最小分辨率5pm。

面对新型光互联技术的测试验证需求，电科思仪带来的调制频率最高达170GHz的6433QA光波元件分析仪，凭借超宽频测试范围，赋能CPO/硅光芯片验证，夯实高速光通信产业基础。

不难发现，测试测量对光互联技术的演进升级有着关键作用，但国产光通信测试测量仪器在国内市场份额处于低位，长期被海外巨头高度垄断。

可以说，电科思仪此次带来的不仅是面向AI时代光互联需求的测试测量方案，更是国产高端测试测量仪器集体突围的缩影。

国产高端测试测量仪器的突围时刻

作为国内电子测量仪器领域的龙头企业，中电科思仪科技股份有限公司（以下简称“电科思仪”）参展，携1.6T/3.2T高速光芯片、光模块综合测试解决方案等产品亮相，覆盖高速光芯片与光模块测试、光互联演进验证、相干光通信等全链条测试需求，交出一份AI光互联测试的国产化系统级答卷。

面向相干光通信的测试验证需求，电科思仪通过光波长计、光频率噪声分析仪、光相对强度噪声分析仪组成的光通信激光特性测试解决方案，可实现光波长、光频率噪声、光相对强度噪声等全维度高精度测试，为窄线宽激光器芯片的性能评估和故障诊断提供关键数据支持。

更重要的是，该方案全栈自主可控，可满足AI算力、5G/6G光通信、新一代相干光通信、硅光器件等多类光芯片、光器件的性能评估与指标测试，覆盖实验室基础研发、样品可靠性验证以及预量产阶段的性能筛查等多类工作场景，为高速光互联硬件的技术迭代与产品落地提供完整测试保障。

毫无疑问，电科思仪正以全栈自主可控的系统级方案，为AI光互联技术迭代提供了完整的国产化测试保障。

不难发现，测试测量对光互联技术的演进升级有着关键作用，但国产光通信测试测量仪器在国内市场份额处于低位，长期被海外巨头高度垄断。