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RapidTDAS亮相AEIF 2026,演绎车规芯片零缺陷智能解决方案


速读:“零缺陷”是无限趋近于零的过程。
2026年05月25日 12:04

5月20-21日,第十三届汽车电子创新大会(AEIF 2026)在上海举行。1000余位汽车电子专家与产业链决策者齐聚。汽车电子专委会委员、杭州芯翼科技总经理郑尊标先生受邀发表演讲——《测试数据分析AI智能体:车规芯片“零缺陷”的自主引擎》。

车规芯片“零缺陷”已是行业必答题

随着汽车“新四化”的加速演进,单车芯片数量从燃油车约500颗跃升至高阶智驾车约3000颗。芯片数量的倍数级增长,叠加汽车场景超宽温、强电磁干扰、超长寿命的严苛使用环境,芯片失效风险被指数级放大,因此“零缺陷”愈发重要。

“零缺陷”追求的不是绝对的零,不是一个静态目标,而是动态的过程,是无限趋近于零的过程。

然而,共识易立,落地维艰。对于中国几百家车规芯片的设计公司来说,急需一个主线清晰,容易上手的落地方案。

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